Yeni ekran teknolojisi katlanma izini azaltmayı hedefliyor
Katlanabilir akıllı telefonların en büyük eleştiri noktalarından biri olan ekran kıvrımı, üreticilerin uzun süredir çözmeye çalıştığı teknik sorunlardan biri olarak öne çıkıyor. Ortaya çıkan detaylara göre Oppo Find N7 Wide, katlama izini belirgin ölçüde azaltmayı amaçlayan yeni bir ekran teknolojisiyle test ediliyor. Geleneksel katlanabilir modellerde belirli açılardan fark edilen ekran kırışıklığı, kitap sayfasındaki katlama çizgisine benzer bir görünüme sahip olurken, yeni yaklaşımın bu etkiyi minimum seviyeye indirmesi amaçlanıyor.
Aynı sızıntıya göre cihazın arka bölümünde yatay konumlandırılmış bir kamera modülü kullanılabilir. Son yıllarda birçok amiral gemisi modelde tercih edilen dairesel veya dikey kamera tasarımlarından farklı bir yaklaşım sunan bu yapı, telefonun genel görünümünde yeni bir tasarım anlayışının habercisi olarak değerlendiriliyor.
Daha önce paylaşılan bilgiler de Oppo'nun geniş ekranlı, kitap tarzında katlanabilen yeni bir model üzerinde çalıştığını ortaya koymuştu. İddialara göre prototipte 5,5 inç büyüklüğünde bir dış ekran ve yaklaşık 7,6 inç boyutunda katlanabilir iç ekran bulunuyor. Panel geliştirme sürecinde Samsung Display ile BOE'nin birlikte görev aldığı belirtiliyor. Özellikle geniş katlanabilir telefon segmentinde panel üretimi, cihazın uzun ömürlü olması açısından kritik önem taşıyor.
Donanım tarafında ise Qualcomm'un 2 nanometre üretim süreciyle geliştirileceği iddia edilen Snapdragon 8 Elite Gen 6 platformu dikkat çekiyor. Son olarak Oppo'nun yeni nesil menteşe sistemi üzerinde de çalıştığı belirtiliyor. Katlanabilir telefonlarda menteşe mekanizması, cihazın uzun süreli kullanımındaki dayanıklılığı belirleyen temel bileşenlerden biri olarak kabul ediliyor. Daha ince ve sağlam yapılar geliştirmek, ekran kıvrımını azaltmanın yanı sıra telefonun genel kalınlığını da aşağı çekebiliyor.
